Published

1993-01-01

Estudio de propiedades estructurales de películas delgadas de CdS depositadas por sublimación en espacio semicerrado

Keywords:

Temperaturas del sustrato, Evaporación, Difracción de rayos-x. (es)

Authors

  • G. Cediel Universidad Nacional de Colombia
  • L. M. Caicedo Universidad Nacional de Colombia
  • M. Flórez Universidad Nacional de Colombia
  • G. Gordillo Universidad Nacional de Colombia

En este trabajo se estudia el efecto de las temperaturas del sustrato y de evaporación, de la distancia entre el evaporador y el sustrato sobre la fase y la orientación cristalográfica de películas delgadas de CdS, preparadas por el método de sublimación en espacio semicerrado (C.S.S.) usando la técnica de difracción de rayos-x.

In this work we study the effect of substrate and evaporation temperatures and substrate-evaporator distance on the phase and crystallographic orientation of CdS thin films prepared by the C.S.S. method using the x-ray diffraction technique.

How to Cite

APA

Cediel, G., Caicedo, L. M., Flórez, M. and Gordillo, G. (1993). Estudio de propiedades estructurales de películas delgadas de CdS depositadas por sublimación en espacio semicerrado. MOMENTO, (8), 5–14. https://revistas.unal.edu.co/index.php/momento/article/view/35225

ACM

[1]
Cediel, G., Caicedo, L.M., Flórez, M. and Gordillo, G. 1993. Estudio de propiedades estructurales de películas delgadas de CdS depositadas por sublimación en espacio semicerrado. MOMENTO. 8 (Jan. 1993), 5–14.

ACS

(1)
Cediel, G.; Caicedo, L. M.; Flórez, M.; Gordillo, G. Estudio de propiedades estructurales de películas delgadas de CdS depositadas por sublimación en espacio semicerrado. Momento 1993, 5-14.

ABNT

CEDIEL, G.; CAICEDO, L. M.; FLÓREZ, M.; GORDILLO, G. Estudio de propiedades estructurales de películas delgadas de CdS depositadas por sublimación en espacio semicerrado. MOMENTO, [S. l.], n. 8, p. 5–14, 1993. Disponível em: https://revistas.unal.edu.co/index.php/momento/article/view/35225. Acesso em: 28 mar. 2024.

Chicago

Cediel, G., L. M. Caicedo, M. Flórez, and G. Gordillo. 1993. “Estudio de propiedades estructurales de películas delgadas de CdS depositadas por sublimación en espacio semicerrado”. MOMENTO, no. 8 (January):5-14. https://revistas.unal.edu.co/index.php/momento/article/view/35225.

Harvard

Cediel, G., Caicedo, L. M., Flórez, M. and Gordillo, G. (1993) “Estudio de propiedades estructurales de películas delgadas de CdS depositadas por sublimación en espacio semicerrado”, MOMENTO, (8), pp. 5–14. Available at: https://revistas.unal.edu.co/index.php/momento/article/view/35225 (Accessed: 28 March 2024).

IEEE

[1]
G. Cediel, L. M. Caicedo, M. Flórez, and G. Gordillo, “Estudio de propiedades estructurales de películas delgadas de CdS depositadas por sublimación en espacio semicerrado”, Momento, no. 8, pp. 5–14, Jan. 1993.

MLA

Cediel, G., L. M. Caicedo, M. Flórez, and G. Gordillo. “Estudio de propiedades estructurales de películas delgadas de CdS depositadas por sublimación en espacio semicerrado”. MOMENTO, no. 8, Jan. 1993, pp. 5-14, https://revistas.unal.edu.co/index.php/momento/article/view/35225.

Turabian

Cediel, G., L. M. Caicedo, M. Flórez, and G. Gordillo. “Estudio de propiedades estructurales de películas delgadas de CdS depositadas por sublimación en espacio semicerrado”. MOMENTO, no. 8 (January 1, 1993): 5–14. Accessed March 28, 2024. https://revistas.unal.edu.co/index.php/momento/article/view/35225.

Vancouver

1.
Cediel G, Caicedo LM, Flórez M, Gordillo G. Estudio de propiedades estructurales de películas delgadas de CdS depositadas por sublimación en espacio semicerrado. Momento [Internet]. 1993 Jan. 1 [cited 2024 Mar. 28];(8):5-14. Available from: https://revistas.unal.edu.co/index.php/momento/article/view/35225

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