Study of system´s vulnerability due to short circuit faults considering protective devices
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Calidad de la Energía Eléctrica (es)Descargas
The purpose of this study is to determine vulnerable areas of a pilot circuit before failure. The sags are characterized in magnitude and duration as a consequence of faults. The evaluation of the sags and the time of operation of the protection are made in the nodes using simulation tools. In this way we can find the most vulnerable areas of the system that will allow the Network Operator (NO) take action to improve power quality. One way in which the NO could improve the power quality is through the protection coordination
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Diaz Valencia, J. D. (2013). Study of system´s vulnerability due to short circuit faults considering protective devices. Simposio Internacional sobre la Calidad de la Energía Eléctrica - SICEL, 7. https://revistas.unal.edu.co/index.php/SICEL/article/view/38864
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Diaz Valencia, J.D. 2013. Study of system´s vulnerability due to short circuit faults considering protective devices. Simposio Internacional sobre la Calidad de la Energía Eléctrica - SICEL. 7, (ene. 2013).
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Diaz Valencia, J. D. Study of system´s vulnerability due to short circuit faults considering protective devices. SICEL 2013, 7.
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DIAZ VALENCIA, J. D. Study of system´s vulnerability due to short circuit faults considering protective devices. Simposio Internacional sobre la Calidad de la Energía Eléctrica - SICEL, [S. l.], v. 7, 2013. Disponível em: https://revistas.unal.edu.co/index.php/SICEL/article/view/38864. Acesso em: 7 feb. 2025.
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Diaz Valencia, Juan David. 2013. «Study of system´s vulnerability due to short circuit faults considering protective devices». Simposio Internacional Sobre La Calidad De La Energía Eléctrica - SICEL 7 (enero). https://revistas.unal.edu.co/index.php/SICEL/article/view/38864.
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Diaz Valencia, J. D. (2013) «Study of system´s vulnerability due to short circuit faults considering protective devices», Simposio Internacional sobre la Calidad de la Energía Eléctrica - SICEL, 7. Disponible en: https://revistas.unal.edu.co/index.php/SICEL/article/view/38864 (Accedido: 7 febrero 2025).
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J. D. Diaz Valencia, «Study of system´s vulnerability due to short circuit faults considering protective devices», SICEL, vol. 7, ene. 2013.
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Diaz Valencia, J. D. «Study of system´s vulnerability due to short circuit faults considering protective devices». Simposio Internacional sobre la Calidad de la Energía Eléctrica - SICEL, vol. 7, enero de 2013, https://revistas.unal.edu.co/index.php/SICEL/article/view/38864.
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Diaz Valencia, Juan David. «Study of system´s vulnerability due to short circuit faults considering protective devices». Simposio Internacional sobre la Calidad de la Energía Eléctrica - SICEL 7 (enero 1, 2013). Accedido febrero 7, 2025. https://revistas.unal.edu.co/index.php/SICEL/article/view/38864.
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1.
Diaz Valencia JD. Study of system´s vulnerability due to short circuit faults considering protective devices. SICEL [Internet]. 1 de enero de 2013 [citado 7 de febrero de 2025];7. Disponible en: https://revistas.unal.edu.co/index.php/SICEL/article/view/38864
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