Publicado

2013-01-01

Study of system´s vulnerability due to short circuit faults considering protective devices

Palabras clave:

Calidad de la Energía Eléctrica (es)

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Autores/as

  • Juan David Diaz Valencia

The purpose of this study is to determine vulnerable areas of a pilot circuit before failure. The sags are characterized in magnitude and duration as a consequence of faults. The evaluation of the sags and the time of operation of the protection are made in the nodes using simulation tools. In this way we can find the most vulnerable areas of the system that will allow the Network Operator (NO) take action to improve power quality. One way in which the NO could improve the power quality is through the protection coordination

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Diaz Valencia, J. D. (2013). Study of system´s vulnerability due to short circuit faults considering protective devices. Simposio Internacional sobre la Calidad de la Energía Eléctrica - SICEL, 7. https://revistas.unal.edu.co/index.php/SICEL/article/view/38864

ACM

[1]
Diaz Valencia, J.D. 2013. Study of system´s vulnerability due to short circuit faults considering protective devices. Simposio Internacional sobre la Calidad de la Energía Eléctrica - SICEL. 7, (ene. 2013).

ACS

(1)
Diaz Valencia, J. D. Study of system´s vulnerability due to short circuit faults considering protective devices. SICEL 2013, 7.

ABNT

DIAZ VALENCIA, J. D. Study of system´s vulnerability due to short circuit faults considering protective devices. Simposio Internacional sobre la Calidad de la Energía Eléctrica - SICEL, [S. l.], v. 7, 2013. Disponível em: https://revistas.unal.edu.co/index.php/SICEL/article/view/38864. Acesso em: 14 oct. 2024.

Chicago

Diaz Valencia, Juan David. 2013. «Study of system´s vulnerability due to short circuit faults considering protective devices». Simposio Internacional Sobre La Calidad De La Energía Eléctrica - SICEL 7 (enero). https://revistas.unal.edu.co/index.php/SICEL/article/view/38864.

Harvard

Diaz Valencia, J. D. (2013) «Study of system´s vulnerability due to short circuit faults considering protective devices», Simposio Internacional sobre la Calidad de la Energía Eléctrica - SICEL, 7. Disponible en: https://revistas.unal.edu.co/index.php/SICEL/article/view/38864 (Accedido: 14 octubre 2024).

IEEE

[1]
J. D. Diaz Valencia, «Study of system´s vulnerability due to short circuit faults considering protective devices», SICEL, vol. 7, ene. 2013.

MLA

Diaz Valencia, J. D. «Study of system´s vulnerability due to short circuit faults considering protective devices». Simposio Internacional sobre la Calidad de la Energía Eléctrica - SICEL, vol. 7, enero de 2013, https://revistas.unal.edu.co/index.php/SICEL/article/view/38864.

Turabian

Diaz Valencia, Juan David. «Study of system´s vulnerability due to short circuit faults considering protective devices». Simposio Internacional sobre la Calidad de la Energía Eléctrica - SICEL 7 (enero 1, 2013). Accedido octubre 14, 2024. https://revistas.unal.edu.co/index.php/SICEL/article/view/38864.

Vancouver

1.
Diaz Valencia JD. Study of system´s vulnerability due to short circuit faults considering protective devices. SICEL [Internet]. 1 de enero de 2013 [citado 14 de octubre de 2024];7. Disponible en: https://revistas.unal.edu.co/index.php/SICEL/article/view/38864

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