MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE TRANSMISIÓN Y MECÁNICA CUÁNTICA
QUANTUM MECHANICS AND THE ELECTRON MICROSCOPY
DOI:
https://doi.org/10.15446/mo.n59E.81623Palabras clave:
Microscopía electrónica de transmisión, holografía electrónica, interferencia electrónica, efecto ESAB. (es)Transmission electron microscopy, electron holography, electron interference, ESAB effect. (en)
Descargas
En este artículo se explica el proceso de creación del microscopio electrónico de transmisión y la técnica de microscopía electrónica. A su vez, se describen dos experimentos, el de interferencia de un solo electrón y el efecto Ahrenberg Siday-Aharonov-Bohm, los cuales evidencian aspectos del comportamiento de los electrones, que no podrían ser explicados desde la mecánica clásica y que se hacen evidentes gracias a este tipo de instrumentos y al uso de la holografía electrónica. Finalmente, se muestran algunos de los trabajos actuales en los que se utiliza la microscopía electrónica de transmisión en el grupo de microscopía electrónica del departamento de física.
In this article, the creation process of the Transmission electron microscope (TEM) is shown. Additionally, two experiments of a single electron interference and the ASAB (hrenberg Siday-Aharonov-Bohm)eect is described. This to evidence aspects of the electron behavior that couldn't be explained by the classical mechanics and result evident using TEM and electron holography. To nish some of the work done in the electron microscopy using TEM is presented.
Referencias
M. M. Freundlich, Science (80-. ). 142, 185 (1963).
Karl F. Braun, in Nobel Lect. Phys. (World Scientic Publishing
Co., 1998), pp. 226{245.
E. Ruska, Angew. Chemie Int. Ed. English 26, 595 (1987).
M. Knoll and E. Ruska, Ann. Phys. 404, 607 (1932).
E. Hecht, Optica, Tercera (Addison Wesley, Espana, 2000).
E. Ruska, Z. Phys. 87, 580 (1934).
H. L. Watson, (n.d.).
T. P. Ryan, (2003).
Tim Palucka, Hist. Recent Sci. Technol. - Mater. Res. 1 (2002).
G. Mollenstedt, Phys. Status Solidi 116, 13 (1989).
G. Mollenstedt, in Adv. Opt. Electron Microsc. Vol. 12, edited
by T. Mulvey and C. J. R. Sheppard (Academic press, London,
U.K., 2013), p. 363.
D. Gabor, Nature 161, 777 (1948).
E. N. Leith and J. Upatnieks, J. Opt. Soc. Am. 52, 1123 (1962).
G. Mollenstedt and H. Duker, Naturwissenschaften 42, 41
(1955).
H. Lichte, J. Electron Microsc. (Tokyo). 47, 387 (1998).
H. Lichte and M. Lehmann, Rep. Prog. Phys. 71, 16102 (2008).
A. V. Crewe, D. N. Eggenberger, J. Wall, and L. M. Welter,
Rev. Sci. Instrum. 39, 576 (1968).
A. Tonomura, Proc. Jpn. Acad. Ser. B. Phys. Biol. Sci. 82, 45
(2006).
H. Lichte, Ultramicroscopy 20, 293 (1986).
A. Tonomura, ELECTRON HOLOGRAPHY.: 2nd Edition
(Springer, 1999).
H. Wahl, Bildebenenholographie Mit Elektronen, 1975.
Microscopía electrónica de transmisión y mecánica cuántica 23
J. W. S. del Sandino, Study of Solar Cells by Electron
Holography (2012).
O. Donati, G. P. Missiroli, and G. Pozzi, Am. J. Phys. 41, 639
(1973).
P. G. Merli, G. F. Missiroli, and G. Pozzi, Am. J. Phys. 44, 306
(1976).
G. F. Missiroli, G. Pozzi, and U. Valdre, J. Phys. E. 14, 649
(1981).
G. Mollenstedt and H. Duker, Zeitschrift Fur Phys. 145, 377
(1956).
R. Speidel and D. Kurz, Optik (Stuttg). 49, 173 (1977).
G. Mollenstedt and G. Wohland, in 7th Eur. Congr. Electron
Microsc. (Den Haag, 1980), p. 28.
A. Lubk, D. Wolf, and H. Lichte, Ultramicroscopy 110, 438
(2010).
S. Chung, D. J. Smith, and M. R. McCartney, Microsc.
Microanal. 13, 329 (2007).
T. M. Chou and M. Libera, Ultramicroscopy 94, 31 (2003).
R. M. Stern and A. Gervais, Surf. Sci. 17, 273 (1969).
E. Krimmel, G. Mollenstedt, and W. Rothemund, Appl. Phys.
Lett. 5, 209 (1964).
S. Yazdi, T. Kasama, M. Beleggia, M. Samaie Yekta, D. W.
McComb, A. C. Twitchett-Harrison, and R. E. Dunin-Borkowski,
Ultramicroscopy 152C, 10 (2014).
Dunin-Borkowski, T. Kasama, A.Wei, Steven Tripp, M. Hytch,
E. Snoek, R. Harrison, and A. Putnis, Microsc. Res. Tech. 64, 380
(2004).
H. Lichte, P. Formanek, A. Lenk, M. Linck, C. Matzeck, M.
Lehmann, and P. Simon, Annu. Rev. Mater. Res. 37, 539 (2007).
A. Tonomura, Proc. Jpn. Acad. Ser. B. Phys. Biol. Sci. 82, 45
(2006).
R. G. Chambers, Phys. Rev. Lett. 5, 3 (1960).
W. Bayh, Zeitschrift Fur Phys. 169, 492 (1962).
A. Tonomura, N. Osakabe, T. Matsuda, T. Kawasaki, J. Endo,
S. Yano, and H. Yamada, Phys. Rev. Lett. 56, 792 (1986).
N. Osakabe, T. Matsuda, T. Kawasaki, J. Endo, A. Tonomura,
S. Yano, and H. Yamada, Phys. Rev. A 34, 815 (1986).
John W. Sandino
R. P. Crease, Phys. World 15, 19 (2002).
Y. Aharonov and D. Bohm, PR 115, 485 (1959).
W. Ehrenberg and R. E. Siday, Proc. Phys. Soc. Sect. B 62, 8
(1949).
Y. Aharonov and D. Bohm, Phys. Rev. 125, 2192 (1962).
H. Boersch and B. Lischke, Zeitschrift Fur Phys. A Hadron.
Nucl. 237, 449 (1970).
Cómo citar
APA
ACM
ACS
ABNT
Chicago
Harvard
IEEE
MLA
Turabian
Vancouver
Descargar cita
Licencia
Derechos de autor 2019 MOMENTO
![Creative Commons License](http://i.creativecommons.org/l/by-nd/4.0/88x31.png)
Esta obra está bajo una licencia internacional Creative Commons Atribución-SinDerivadas 4.0.
Aquellos autores/as que tengan publicaciones con esta revista, aceptan los términos siguientes:- Los autores/as conservarán sus derechos de autor y garantizarán a la revista el derecho de primera publicación de su obra, el cuál estará simultáneamente sujeto a la Licencia de reconocimiento de Creative Commons Atribución-SinDerivar 4.0 International que permite la redistribución, comercial o no comercial, siempre y cuando la obra circule íntegra y sin cambios, donde indique su autor y su primera publicación en esta revista.
- Se permite y recomienda a los autores/as difundir su obra a través de Internet (p. ej.: en archivos telemáticos institucionales o en su página web) antes y durante el proceso de envío, lo cual puede producir intercambios interesantes y aumentar las citas de la obra publicada.